测试晶片

我们提供用于评估半导体工艺材料和设备的带有焊球的测试晶片(安装有焊球的评估晶片)。 迄今为止,测试晶圆都是针对每个客户制造出独特的图案(定制产品),因此小规模采购的初始成本很高,这对客户来说是一个沉重 的负担。 为了回应这样的客户反馈,麦克赛尔通过以低价格提供固定图案*1作为标准产品,使尽可能向客户提供轻质的测试晶片成为可能。 可广泛用于客户的研发,如背磨工艺和切割工艺。 * 1:将收取单独的初始费用,但也可根据要求提供客户特定的图案。

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  • 特征

    1.把图案做成标准品可以压低价格

    2.根据要求,我们可以响应标准之外的规格(焊点的有无,焊点直径和间距等布局变化也是可能的)。

     将以 25 张/批提供。如需其他订购数量,请联系我们。

    规格图片

    测试晶片01

    参考规格(凸点高度 250 微米)

    测试晶片02


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